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      磁卡貼膜與磁卡剝離強(qiáng)度測(cè)試儀:特點(diǎn)與技術(shù)參數(shù)

      更新時(shí)間:2025-02-17點(diǎn)擊次數(shù):151

        本文由濟(jì)南賽成電子科技有限公司提供

        表面的貼膜主要起到保護(hù)和美化作用,但如果貼膜與磁卡基材之間的粘合強(qiáng)度不足,會(huì)導(dǎo)致貼膜在使用過(guò)程中容易脫落或翹邊。這不僅影響磁卡的外觀,還可能破壞消費(fèi)者的觸感,降低使用感受。因此,通過(guò)檢測(cè)剝離強(qiáng)度,可以確保磁卡的整體質(zhì)量和性能,滿(mǎn)足消費(fèi)者的使用需求。

        磁卡在使用過(guò)程中會(huì)受到各種外力的影響,如彎曲、摩擦、刮擦等。這些外力可能導(dǎo)致貼膜與磁卡基材之間的粘合強(qiáng)度降低,進(jìn)而影響磁卡的讀取性能和使用壽命。通過(guò)檢測(cè)剝離強(qiáng)度,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)生產(chǎn)工藝中的不足,從而延長(zhǎng)磁卡的使用壽命。

        磁卡貼膜與磁卡剝離強(qiáng)度測(cè)試儀特點(diǎn)

        7寸觸摸屏操作,人機(jī)接口時(shí)尚、便捷

        具備摩擦系數(shù)、180°剝離二種試驗(yàn)?zāi)J?/p>

        寬范圍、高精度溫度控制裝置輕松實(shí)現(xiàn)試樣在不同溫度下的測(cè)試

        無(wú)極變速,多檔速度可調(diào),滿(mǎn)足客戶(hù)不同需求

        該儀器滿(mǎn)足GB、ISO、ASTM多種測(cè)試

        標(biāo)準(zhǔn)儀器試驗(yàn)臺(tái)面和測(cè)試滑塊均經(jīng)過(guò)消磁處理和剩磁檢測(cè),有效地降低了系統(tǒng)測(cè)試誤差

        系統(tǒng)由計(jì)算機(jī)和微處理器共同控制,方便用戶(hù)快速進(jìn)行試驗(yàn)操作

        專(zhuān)業(yè)軟件提供測(cè)試結(jié)果曲線疊加統(tǒng)計(jì)分析,準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶(hù)

        配備USB接口,專(zhuān)業(yè)測(cè)控軟件、可通過(guò)軟件操控儀器完成各項(xiàng)試驗(yàn)

        磁卡貼膜與磁卡剝離強(qiáng)度測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

        負(fù)荷量程0 ~ 5 N (10N和30N可選)

        精  度0.5 級(jí)

        滑塊質(zhì)量200 g (100g 、500g、1000g、 1814g 、2000g 等另購(gòu))

        試驗(yàn)速度1 ~ 600 mm/min(無(wú)級(jí)調(diào)速)

        試驗(yàn)溫度室溫 ~ 99.9℃

        電源AC 220 V 50 Hz

        外形尺寸800mm(L) × 390mm(W) × 250mm(H)

        凈  重32 kg